Dokumendiregister | Politsei- ja Piirivalveamet |
Viit | 20-1.3/174-4 |
Registreeritud | 17.01.2025 |
Sünkroonitud | 21.01.2025 |
Liik | Väljaminev kiri |
Funktsioon | 20 HANKEVÕIMEKUS. OSTUDE KORRALDAMINE |
Sari | 20-1.3 Hankevõimekusega seotud kirjavahetus |
Toimik | 20-1.3 |
Juurdepääsupiirang | Avalik |
Juurdepääsupiirang | |
Adressaat | Riigihangete vaidlustuskomisjon, MOONRAY OÜ, Baltic Fox OÜ |
Saabumis/saatmisviis | Riigihangete vaidlustuskomisjon, MOONRAY OÜ, Baltic Fox OÜ |
Vastutaja | Lysann Viitamees (arendusosakond, hanke- ja lepingutalitus, lepingute grupp) |
Originaal | Ava uues aknas |
Pärnu mnt 139 / 15060 Tallinn / [email protected] / www.politsei.ee
Registrikood 70008747
Angelika Timusk
Riigihangete vaidlustuskomisjon
Vandeadvokaat Mart Parind
MOONRAY OÜ esindaja
e-post: [email protected]
Baltic Fox OÜ
e-post: [email protected]
Teie 14.01.2025
Meie 17.01.2025 nr 20-1.3/174-4
Hankija vastus vaidlustaja täiendavatele
seisukohtadele
1. Menetluse senine käik
Riigihangete vaidlustuskomisjon (edaspidi VAKO) edastas 03.01.2025 Politsei- ja
Piirivalveametile (edaspidi hankija) MOONRAY OÜ (edaspidi vaidlustaja) vaidlustuse
riigihanke „IR lasersihikute soetamine“ (viitenumber 278422) 30.12.2024 otsusele nr 20-
2.28/6-14, millega lükati mittevastavana tagasi MOONRAY OÜ pakkumus ning tunnistati
edukaks Baltic Fox OÜ (edaspidi kolmas isik) pakkumus.
Hankija esitas 08.01.2025 vaidlustusele vastuse. 09.01.2025 teavitas VAKO menetlusosalisi
edasistest menetlustähtaegadest ning vaidluse lahendamisest kirjalikus menetluses. 13.01.2025
teatas VAKO vaidlustaja päringu peale, et vaidlustuses esitatud menetluslikud taotlused
ekspertiisi läbiviimiseks või selle läbiviimise võimaldamiseks jäävad rahuldamata. Vaidlustaja
esitas oma täiendavad seisukohad 14.01.2025.
Käesolevaga vastab hankija vaidlustaja 14.01.2025 esitatud täiendavatele seisukohtadele.
2. Hankija täiendav seisukoht
Hankija jääb 08.01.2025 vaidlustuse vastuses esitatud seisukohtade juurde ning soovib
tulenevalt vaidlustaja 14.01.2025 vastusest tuua välja veel järgmist:
2.1. Vaidlustaja seisukohad ei kummuta fakti, et ruumi temperatuur valgustehnilise
mõõtmise teostamise hetkel oli tehnilisele kirjeldusele vastav
Vaidlustaja väitel on ilmne protokolli rikkumine, kui vaidlustaja näidistoodet testiti ruumis,
mille temperatuur oli 25,2 ± 1,0 °C (ehk toatemperatuur võis olla ka 24,2 °C).
2 (4)
Tehnilise kirjelduse (edaspidi TK) koostamisel lähtus hankija EN standardist, millest lähtuvad
ka laborid valgustehniliste mõõtmiste teostamisel. Vaidlustus selle osas, et mõõtemääramatuse
arvestamine temperatuurilistel mõõtmistel on protokolli rikkumine, on alusetu. Kui lähtuda
vaidlustaja tõlgendusest, et TK punktis 31 toodud temperatuuri tuleb lugeda nii, et tegemist
saab olla ainult sellise testkeskkonnaga, mille temperatuur on absoluutse täpsusega +25 kraadi,
ei oleks võimalik hankijal isegi kõnealust laboritesti läbi viia, kuivõrd laborile etteantud
mõõtemetoodika standardist tulenevalt on temperatuuri mõõtemääramatus paratamatu.
Sisuliselt üritab vaidlustaja luua olukorda, kus hankijal ei ole objektiivselt võimalik seadmete
vastavust mitte mingil juhul põhjapanevalt kontrollida. Nagu on ka hankija esialgses vastuses
toodud – igasugusel mõõtmisel on paratamatu määramatus (sh ka temperatuuril). Isegi kui teha
(või kui hankija oleks teinud) pakkuja näidisele samas (või teises) laboris kordusmõõtmine, ei
oleks võimalik mõõtmist teostada ilma mõõtemääramatuseta.
Käsitledes konkreetselt testkeskkonna temperatuuri (25,2 °C+/- 1 °C), tuleb seda tõlgendada
järgmiselt: konkreetse keskkonna tõeline temperatuur jääb 24,2 °C-26,2 °C vahele. Kuivõrd
absoluutselt täpset mõõtmist ei ole võimalik teostada, märgib hankija, et temperatuuri väärtust
25,2 °C peetakse antud kontekstis testkeskkonna tõenäoseimaks temperatuuriks.
Mõõtemääramatus on kahe mistahes aktsepteeritava mõõteväärtuse võimaliku erinevuse
kirjeldaja. Mõõtemääramatus kaasneb iga füüsikalise pidevsuuruse mõõtmisega. (I. Peil, K.
Tarkpea. Sissejuhatus füüsikasse. Kulgliikumise kinemaatika. Peatükk 2.5.1: Mõõtmise
täpsuspiirid ja mõõtemääramatus.
https://opik.fyysika.ee/index.php/book/section/240#/section/240)
Jääb ebaselgeks, mida peab vaidlustaja silmas „pakkuja kasuks või kahjuks
mõistmisega“ (vaidlustaja täiendavate seisukohtade p 11). Hankija väide on olnud, et (i)
testimiskeskkonna temperatuurile kohaldub paratamatu määramatus, ning lisaks sellele (ii) ei
mõjuta ka eksperdi sõnul temperatuuri paratamatu mõõtmatus käesolevas vaidlustuses
relevantsel määral mõõtmistulemust (seda kinnitavad faktiliselt ka testi käigus tehtud
kordusmõõtmised). Eeltoodud tõsiasju ei saa tõlgendada või mõista ei pakkuja „kahjuks“ ega
„kasuks“. Hankija ei ole kummalegi poole, ei vaidlustaja sõnutsi „plussi“ ega „miinuse“ suunas
kaldunud. Sh kõnealuse mõõtmise käigus saavutatud tulemus vaidlustaja tootenäidise
tipplainepikkusest (818 nm) on mõõtemääramatusega +/-1 nm. Ka „pakkuja
kasuks“ tõlgendamisel jääb tipplainepikkuse näit TK punktis 29.3 nõutust madalamaks (845+/-
25).
Vaidlustaja on oluliselt võimendanud hankija väiteid ekstreemsete näidetega, väljudes
käesolevas vaidluses küsimuse all olevate asjaolude mõistlikest piiridest. Nagu on ka selgelt
esitatud hankija eelnevas vastuses, temperatuur ei mõjuta tulemust teatud piirides. Taaskord,
ekstreemset temperatuurimuudatust (ja selle mõju) hankija oma vastuses eelnevalt käsitlenud
ei ole. Testimise jooksul teostati korratud mõõtmisi, millega viidi mõõtmiste keskkonna ja
mõõdetava seadme temperatuur (keskkonnaga stabiliseeritult) ka kümne kraadi võrra
madalamale, ning see ei muutunud mõõdetavat parameetrit - tipplainepikkus (Peak
Wavelength) λ p (muutus alla 1 nm). Mõõtmised kinnitasid seega ka asjaolu, et Peak
Wavelength) λ p ei sõltu antud kontekstis seadme ja ümbritseva keskkonna temperatuurist (vt
Lisa 1).
2.2. Vaidlustaja seisukohad ei kummuta fakti, et TK p 31 tingimuse kohaselt tuleb
arvestada vaid testkeskkonna temperatuuriga
Tehnilisest kirjeldusest ei loe välja vaidlustaja väidetut, et temperatuuritingimus peaks
hõlmama seadme temperatuuri (vaidlustaja täiendavate seisukohtade p 12 ja 13), tegu on
3 (4)
vaidlustaja enda paljasõnalise hinnanguga. Hankijal tekib vaidlustaja seisukohast tingituna ka
küsimus, mida tähendab vaidlustaja hinnangul „seadme temperatuur“ ning kas seda oleks
võimalik üldse objektiivselt ja terviklikult mõõta. Seadme komponendid on juba oma
toimimismehhanismi olemusest tulenevalt eri temperatuuridega (nt seadme IR-kiirguri
keskpunkt ning seadme välikorpus). Seega jääb hankija jätkuvalt seisukohale, et TK-s on
temperatuuritingimusena käsitletud vaid seadet ümbritsevat keskkonda. Nagu on toodud ka
hankija eelnevas vastuses: seadme sisu (optilise seadme ehk laseri) temperatuuri mõõtmine ei
ole tehnoloogiliselt võimalik ilma seadet lahti monteerimata.
Keskkonna ja seadme töötemperatuur avaldab eelkõige mõju IR-kiirgurite intensiivsusele
(võimsusele), mitte tipplainepikkusele. Seda on kinnitanud hankija eelnevas vastuses nii Tartu
Ülikooli kui ka Tallinna Tehnikaülikooli (edaspidi „TTÜ“ või „labor“) eksperdid. IR-kiirgurite
intensiivsus (võimsus) on vahetus seoses energiaallikaga. Vaidlustajal puudub alus eeldada, et
enne seadme testimist on seda hoitud külmades/kuumades tingimustes. Sh tuleb arvestada, et
mõõteprotokolli näol on tegemist standardprotokolliga, kus märgitakse protseduuriliselt olulisi
andmeid. Hankija ei nõustu seisukohaga, mille kohaselt mõõteprotokolli seadme
temperatuurilise seisukorra täpsustuse lisamata jätmine muudab mõõtmise ebapädevaks ja selle
tulemusena saavutatud näidud ebausaldusväärseks.
Kui jõuda seisukohale, et tingimus tuleb tõlgendada pakkuja kasuks (isegi kui selle tingimuse
täitmine oleks eluliselt võimatu ning seda ei saa mõistlikult hankijast eeldada), peab hankija
vajalikuks selgitada mõõtemetoodikat, mida on TTÜ mõõteprotokollis kasutatud. TTÜ
mõõtemetoodika põhineb standardil EVS-EN 13032-1:2004+A1:2012 Lampide ja valgustite
fotomeetriliste andmete mõõtmine ja esitamine. Osa 1: Mõõtmine ja failiformaat. Eelnimetatud
standardi kohaselt toimub mõõtmine järgmiselt: „Mõõtmisi ei tohi alustada enne, kui
valgusallikas on fotomeetriliselt stabiliseerunud. Valgustugevuse mõõtmised tuleb sooritada
vähemalt üks kord minutis 15 min kestel. Ükski lugemipaar ei tohi erineda enam kui 1% võrra
miinimumist. Igal juhul tuleb saavutata iga katsetatava valgusallika elektriline ja fotomeetriline
stabiilsus; ka kasutatav liiteseadis peab olema termilises tasakaalus.“ Kasutatav
mõõteprotseduur näeb seega ette, et mõõtmisel kasutatakse üksnes stabiliseeritud
(valgus)kiirgusallikaid. Samuti kasutatakse mõõtevahendeid, mis on mõõdetavate parameetrite
mõõtmiseks sobivad ning omavad vähimat mõju mõõtemääramatuse tekkeks (vt Lisa 1).Seega
stabiliseeritakse seade testkeskkonnale vastavaks. Stabiliseerimine tähendab, et seade on
keskkonnas piisavalt pikaajaliselt, et teatud intervalliga testimise tagant annab seade täpselt
samasuguse testitulemuse nagu varemgi. Vastasel juhul ei ole võimalik teostada ka
kordusmõõtmisi ega saavutada usaldusväärset testitulemust.
Hankija ei ole käesolevas vaidlustusmenetluses kordagi väitnud, et ei vastuta hankes tehtavate
otsuste õigsuse eest (nagu on vaidlustaja viidanud oma täiendavate seisukohtade punktis 7).
Hankija on nii vaidlusaluses otsuses kui ka vastuses vaidlustusele kinnitanud, et näidise
valgustehnilise mõõtmise teostamise ajendiks TTÜ-s on olnud hankija enda visuaalne kontroll.
Kuivõrd hankijal endal ei ole akrediteeritud laborit valgustehnilise mõõtmise teostamiseks, ei
ole hankijal muudmoodi võimalik näidise tipplainepikkust kontrollida, kui lastes mõõtmise
teostada teisel asutusel. Seega tuleb vaidlustus jätta rahuldamata, kuna vaidlustaja pakkumust
ei ole võimalik vastavaks tunnistada ning vaidlusalune otsus on õiguspärane.
Lugupidamisega
(allkirjastatud digitaalselt)
4 (4)
Lysann Viitamees
arendusosakond, hanke- ja lepingutalitus,
lepingute grupp
jurist
Lisa:
Lisa 1 - TTÜ selgitused hankija täiendavatele küsimustele
Lysann Viitamees, 6123195, [email protected]
Nimi | K.p. | Δ | Viit | Tüüp | Org | Osapooled |
---|---|---|---|---|---|---|
Taotlus | 14.01.2025 | 2 | 20-1.3/174-3 | Sissetulev kiri | ppa | M. P. |
Teade | 09.01.2025 | 2 | 20-1.3/174-2 | Sissetulev kiri | ppa | Riigihangete Vaidlustuskomisjon |
Vastulause | 08.01.2025 | 3 | 20-1.3/174-1 | Väljaminev kiri | ppa | Riigihangete Vaidlustuskomisjon |
Teade | 03.01.2025 | 8 | 20-1.3/173-1 | Sissetulev kiri | ppa | Riigihangete Vaidlustuskomisjon |